部分内容展示

目前在我国使用的测试设备较多的是两种，一种是实力较强的大企业所使用的综合测试设备，这种设备通常是国外的品牌，另一种是晶体管图示仪，晶体管图示仪在测量时自动化程度不高，耗费大量人力资源，因此，研究半导体三极管参数测试仪器智能化很有必要。本文主要针对半导体三极管的测试方法进行研究，优选测试方案、对半导体三极管综合测试系统的硬件部分进行设计与实现。在构建虚拟仪器测试方案的基础上，首先设计了一种信号放大电路用于光电三极管输出信号的放大处理，然后提出了光电三极管特性测量方法，最后阐述了测试软件环境下的光电三极管测试数据处理过程；从测试的结果看，本文设计的测试仪测得的光电三极管特性曲线与其理论特性曲线误差较小，可以广泛地应用在各种使用光电三极管或者检测光电三极管特性的场合。
 
关键词：半导体三极管；参数测试；智能化；更多范文 光电三极管对光照敏感，也称作光敏三极管，它在光的检测、信息的接受、传输、隔离等方面有广泛的应用，是各行业自动控制必不可少的器件。在使用光敏三极管之前，必须对其物理特性有精确的掌握，如伏安特性和光照特性等，才能正确地使用光敏三极管，达到高效利用的目的。
目前有多种方法可以完成对光电三极管物理特性的测量，例如文献采用传统的万用表、模拟电子搭建的测试电路对光电三极管特性进行测试，此种方法不仅测试的精度低，测量的模拟电路设计成本高、不稳定，而且无法直观地展示测量结果;文献基于AT89C52采集数据，采用VC++6.0中的MSComm控件编程设计出了一种光电探测系统一体化实验系统，但其价格昂贵，上位机编程复杂，下位机数据采集速率有限，不具备灵活性和通用性。随着虚拟仪器技术的发展，LabWindows/CVI作为一种以ANSI C为核心的交互式虚拟仪器开发环境，在无损检测、电力仪表系统、温控系统、流程控制系统、故障诊断等领域中得到了广泛的应用，为光电三极管物理特性的测量提供了一种新的思路。
现在国产三极管主要有两大测试途径，一种是通过传统的晶体管图示仪进行测量，另一种方法是利用半导体分立器件测试系统进行测量。前者测试方法由于需要人工进行大量操作，效率极低，记录性不强，在现在半导体三极管产业高速发展的条件下己逐渐变得不适用。而第二种方法己经逐步成为现今测试主流方法。
目前我国半导体三极管测试产业的发展比较落后，大多数生产厂家依旧使用晶体管图示仪进行出厂测试，这使得在检测部分需要耗费大量的人力资源。虽然晶体管特性图示仪通用性较强、测试性能也能得到产业认可，但此类测试仪器多数则是企业的研发部门、院校和科研机构的实验室在使用，当在流水线上使用时，其检测效率将跟不上流水线生产速度。